DXR3xi Raman imaging микроскоп обеспечивает простое управление, удобное для пользователей любого уровня подготовки. Прибор обеспечивает сверх быструю визуализацию данных с помощью усовершенствованного программного обеспечения. Это позволяет использовать данный прибор для быстрого выявления и анализа крошечных включений в образце. 3D-конфокальная визуализация обеспечивает неразрушающее 3D-исследование химических и молекулярных соединений.
Архитектура спектрометра |
Триплексный спектограф Отсутствие подвижных частей Четыре программно-выбираемые апертуры: Конфокальные апертуры 25 и 50 мкм Щелевые апертуры 25 и 50 мкм |
||||||||
Функциональные параметры |
Разрешение (по осям X, Y) с высокоточным моторизованным столиком – лучше чем 0.5 мкм Конфокальное разрешение по глубине - лучше 2 мкм |
||||||||
Автоматизированная поляризация |
Лазерная поляризация - горизонтальная, вертикальная или деполяризованная Поляризация анализатора - не в луче, горизонтальная, вертикальная или с пользовательским уголом (с шагом 1°) Возможна визуализация с поляризацией |
||||||||
Характеристики изображения |
Типичное время получения изображения изображение размером 100 мкм × 100 мкм с размером пикселя изображения 1 мкм в обоих направлениях |
35 секунд |
|||||||
Типичное время получения изображения изображение образца диаметром 10 мм с размером пикселя изображения 20 мкм |
11 минут |
||||||||
Максимальная скорость получения спектров |
600 спектров/сек |
||||||||
Максимальная площадь изображения |
101,6 мм × 76,2 мм |
||||||||
Минимальный размер пикселя изображения по X и Y |
100 нм |
||||||||
Минимальный размер шага по Z |
200 нм |
||||||||
Программное обеспечение |
Omnic Software |
||||||||
Используемые лазеры |
Длина волны |
455 нм |
532 нм |
532 нм |
633 нм |
633 нм |
785 нм |
785 нм |
|
выходная мощность |
25 мВт |
24 мВт |
100 мВт |
20 мВт |
60 мВт |
80 мВт |
420 мВт |
||
максимальная мощность на образце |
6 мВт |
10 мВт |
40 мВт |
8 мВт |
25 мВт |
30 мВт |
150 мВт |