для промышленных исследований и разработок с возможностью работы в условиях высокого давления

Сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения

Сканирующий электронный микроскоп для анализа материалов в условиях приближенных к реальным (ESEM).

Сканирующий электронный микроскоп для универсальной высокоэффективной визуализации и анализа материалов.

Доступный и надежный материаловедческий СЭМ с интегрированной системой микроанализа и высочайшей степенью автоматизации. Оптимальное решение для индустриальных и R&D задач.