Ru
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр K-Alpha
Описание
Техническая характеристика

Достигайте результатов исследования с минимальными усилиями. РФЭС спектрометр Thermo Scientific™ K-Alpha™ (XPS) представляет собой полностью интегрированную XPS систему с микрофокусировкой и профилированием по глубине. Отличная производительность, снижение стоимости владения, простота использования и компактный размер делают систему идеальной для многопользовательской среды.



РФЭС для повышения производительности

K-Alpha обеспечивает значительно улучшенную спектроскопическую производительность. Решения и концепция прибора приводит к более быстрому времени анализа, улучшенному обнаружению элементов и возможности получения данных с более высоким разрешением, что обеспечивает лучшую идентификацию химического состояния.

Аналитические опции включают модуль вакуумной передачи для перемещения чувствительных к воздуху образцов из перчаточного ящика в систему и модуль наклона для сбора данных ARXPS. Оснащенный системой данных Thermo Scientific™ Avantage, полной программной системой анализа поверхности, K-Alpha имеет ряд программных функций, предназначенных для оптимизации интерпретации данных, отчетности и удобства использования. Система K-Alpha XPS отвечает требованиям как опытных аналитиков XPS, так и новичков в методе, объединяя высокопроизводительное профилирование XPS и с интеллектуальной автоматизацией и интуитивно понятным управлением.

Мощная производительность
  • Спектроскопия локальной области (РФЭС микроскопия)
  • Профилирование по глубине ионным трафление
  • Микро-сфокусированный монохроматор
  • Построение карт
  • Спектроскопия химического состояния с высоким разрешением
  • Анализ диэлектриков
  • Количественная химическая визуализация


Непревзойденная простота использования
  • Захват — спектры, изображения, профили, линейное сканирование
  • Интерпретация — идентификация элементарного и химического состояния
  • Обработка - Количественная идентификация, пиковая подгонка, отображение профиля в режиме реального времени, обработка спектрального изображения, PCA, фазовый анализ, TFA, NLLSF, удаление PSF, наложения оптических/РФЭС изображений
  • Отчетность - автоматическая генерация отчетов с простым экспортом в другие пакеты программного обеспечения
  • Управление — все оборудование управляется из программного интерфейса Avantage
  • Avantage Indexer — управление архивом данных
  • Журнал аудита
  • Ведение журнала производительности системы
  • Калибровка по требованию
  • Полностью удаленная работа при необходимости
Основные свойства
  • Анализатор — полусферический анализатор с двойной фокусировкой на 180° и 128-канальным детектором
  • Источник рентгеновского луча - микрофокусированный монохроматор Al Ka с переменным размером пятна
  • Ионный источник — Диапазон энергии 100-4000 эВ
  • Компенсация заряда
  • Размер образца— 4-осевой манипулятор, площадь образца 60 x 60 мм, максимальная толщина образца 20 мм
  • Опции – модуль переноски, модуль наклона для ARXPS, модуль смещения образца