Ru
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр NEXSA G2
Описание
Техническая характеристика

РФЭС (XPS) Thermo Scientific™ Nexsa G2 предлагает полностью автоматизированный высокопроизводительный анализ поверхности, исследований и разработок или для решения производственных проблем. Интеграция РФЭС (XPS) со спектроскопией рассеяния ионов (ISS), УФ-фотоэлектронной спектроскопией (UPS), спектроскопией потерь энергии отраженных электронов (REELS) и рамановской спектроскопией позволяет проводить полноценные корреляционный анализ. Nexsa G2 раскрывает потенциал достижений в области материаловедения, микроэлектроники, развития нанотехнологий и многих других приложений.

 
Высокая производительность РФЭС благодаря стандартным функциям:

Высокопроизводительный источник рентгеновского излучения

Оптимизированная электронная оптика

Просмотр образцов

Анализ изоляторов

Цифровое управление

Модуль нагревателя образцов NX

Опциональные методики:

Добавьте к вашему анализу любой из интегрированных и полностью автоматизированных методов. Запуск одним нажатием кнопки.

ISS: Спектроскопия рассеяния ионов - это метод, при котором пучок ионов рассеивается поверхностью

UPS: Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия относится к измерению спектров кинетической энергии фотоэлектронов, испускаемых молекулами, которые поглотили ультрафиолетовые фотоны, с целью определения энергии молекулярных орбиталей в валентной области

Раман: Спектроскопический метод, используемый в химии для получения структурного отпечатка пальца

REELS: Спектроскопия потерь энергии электронов при отражении

Режим SnapMap

Сфокусируйте объекты на образце с помощью оптического представления SnapMap. Оптическое представление помогает быстро выделить интересующие области при создании сфокусированного XPS-изображения для дальнейшей детализации вашего эксперимента.

1. Рентгеновские лучи освещают небольшую область на образце.

2. Фотоэлектроны с этой небольшой области собираются и фокусируются в анализаторе

3. Спектры непрерывно регистрируются по мере перемещения платформы

4. Положение платформы отслеживается на протяжении всего сбора данных, позиции используются для создания моментальной карты

Области применения:

- источники питания (батареи);

- биоповерхности;

- катализаторы;

- керамика;

- стеклянные покрытия;

- графен;

- металлы и оксиды;

- наноматериалы;

- OLED-дисплеи;

- полимеры;

- полупроводники;

- cолнечные элементы;

- тонкие пленки.

Площадь отбора

60 x 60 мм

Тип источника рентгеновского излучения

Монохромированный, микрофокусированный, маломощный Al K-Alpha

Размер пятна рентгеновского излучения

от 10 до 400 мкм (регулируется с шагом 5 мкм)

Тип анализатора

Полусферический анализатор с двойной фокусировкой на 180° и 128-канальным детектором

Профилировавшие по глубине

Источник одноатомных ионов EX06 для определения глубины или двухрежимный источник ионов MAGCIS

Дополнительные принадлежности

ИБП, ISS, КАТУШКИ, рамановский спектрометр iXR, MAGCIS, модуль наклона образца, модуль нагрева образца NX, модуль смещения образца, модуль вакуумной передачи, адаптер для гловбокса

Вакуумная система

Два турбомолекулярных насоса с автоматическим титановым сублимационным насосом и форвакуумным