Thermo Scientific ™ Talos F200i (S)TEM - это полевой эмиссионный (сканирующий) просвечивающий электронный микроскоп c напряжением 20-200 кВ, специально разработанный для высокой производительности в широком спектре образцов и применений. Большой зазор между двумя полюсными наконечниками X-Twin, обеспечивающий высокую гибкость в применении, в сочетании с воспроизводимой электронной колонной открывает возможности для получения 2D и 3D характеристик с высоким разрешением, динамических наблюдений in situ и дифракционных применений.
Разработанный для многопользовательских и междисциплинарных условий, Talos F200i (S)TEM также идеально подходит для начинающих пользователей. Он оснащен пользовательским интерфейсом Thermo Scientific™ Velox, который сразу становится знакомым, поскольку он используется на всех платформах Thermo Scientific™ TEM. Все ежедневные настройки TEM были автоматизированы для обеспечения наилучшей и наиболее воспроизводимой настройки. Программное обеспечение для автоматизации Align Genie облегчает процесс обучения начинающих операторов, снижает напряженность в многопользовательской среде и сокращает время получения данных опытным оператором. Для проведения химического анализа в конфигурацию может быть добавлен выдвижной детектор энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS) с боковым доступом.
Меньшая площадь и габариты Talos F200i облегчают размещение прибора. Кроме того, такая компактная конструкция облегчает доступ для обслуживания, одновременно снижая затраты на инфраструктуру и поддержку.
Для дальнейшего повышения производительности, особенно в условиях работы с несколькими пользователями и различными материалами, объективы с постоянной мощностью, конструкция с низким гистерезисом и дистанционное управление камерой SmartCam обеспечивают простое воспроизведение режимов и переключение высокого напряжения. Talos F200i (S)TEM также оснащен обучающей онлайн-справкой. Простое нажатие клавиши F1 при наведении курсора мыши на панель управления быстро открывает необходимую информацию.
- доступен с технологией dual EDS;
- размер детектора (Bruker X-flash): 30, 100 и двойной 100;
- выдвижной: Да, моторизованный;
- энергетическое разрешение EDS: 129 эВ;
- высококачественные изображения STEM/TEM и точные EDS;
- наилучшие возможности для всестороннего анализа;
- повышенная производительность.
Разрешение линии ПЭМ |
≤0,10 нм |
Информационный предел ПЭМ |
≤0,12нм (S-FEG/XFIG) и ≤0,11нм (X-CFG) |
Максимальный угол дифракции |
24° |
Разрешение STEM |
≤0,16 нм (S-FEG/XFEG) и ≤0,14 нм (X-CFEG) |
Тип источника |
FEG, FEG высокой яркости и полевой источник с холодным катодом (X-CFEG) |