Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп (STEM) Spectra Ultra для передачи.

Для эффективной оптимизации изображений TEM и STEM, EDXи EELS требуется захват сигналов при разных ускоряющих напряжениях. Правила могут варьироваться от образца к образцу, но общепризнано, что: 1) лучшая визуализация выполняется при максимально возможном ускоряющем напряжении, выше которого произойдет видимое повреждение, 2) EDX, особенно при картировании, выигрывает от более низких напряжений с увеличенными сечениями ионизации, тем самым оптимизируя карты отношения сигнал-шум для данной общей дозы, и 3) EELS лучше всего работает при высоких напряжениях, чтобы избежать множественного рассеяния, что ухудшает сигнал EELS с увеличением толщины образца.

К сожалению, получение при разных ускоряющих напряжениях на одном и том же образце без потери интересующей области - все это во время одного сеанса микроскопии - невозможно. По крайней мере, до сих пор.

ПредставляемThermo Scientific Spectra 300 S/TEM:

•         Может работать при различных напряжениях (все напряжения от 30 до 300 кВ, для которых были приобретены выравнивания) в рамках одного сеанса микроскопии

•         Переход от ускоряющего напряжения к любому другому занимает около 5 минут

•         Это позволило реализовать новую концепцию EDX с телесным углом 4,45 срад (4,04 срад - с аналитическим двойным наклоном)

С новым Spectra Ultra S/TEM ускоряющее напряжение становится регулируемым параметром, как и ток зонда, а массивная система Ultra-X EDX позволяет проводить химическую характеристику материалов, слишком чувствительных к лучу в рамках обычного анализа EDX.

Spectra Ultra с коррекцией аберрации S/TEM предлагает ведущий в отрасли уровень возможностей характеристики для материаловедения и полупроводниковых применений с самым высоким разрешением на самых разных образцах.