представляет собой полностью интегрированную XPS систему с микрофокусировкой и профилированием по глубине. Отличная производительность, снижение стоимости владения, простота использования и компактный размер делают систему идеальной для многопользовательской среды.

cочетает в себе высокую спектральную чувствительность и разрешение с количественной визуализацией и широкими аналитическими возможностями.

редлагает полностью автоматизированный высокопроизводительный анализ поверхности, исследований и разработок или для решения производственных проблем. Интеграция РФЭС (XPS) со спектроскопией рассеяния ионов (ISS), УФ-фотоэлектронной спектроскопией (UPS), спектроскопией потерь энергии отраженных электронов (REELS) и рамановской спектроскопией позволяет проводить полноценные корреляционный анализ. Nexsa G2 раскрывает потенциал достижений в области материаловедения, микроэлектроники, развития нанотехнологий и многих других приложений.