для промышленных исследований и разработок с возможностью работы в условиях высокого давления
Сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения
Сканирующий электронный микроскоп для анализа материалов в условиях приближенных к реальным (ESEM).
Сканирующий электронный микроскоп для универсальной высокоэффективной визуализации и анализа материалов.
Доступный и надежный материаловедческий СЭМ с интегрированной системой микроанализа и высочайшей степенью автоматизации. Оптимальное решение для индустриальных и R&D задач.
Универсальный ПЭМ и Р/ПЭМ микроскоп для высококонтрастной 2D и 3D визуализации чувствительных к лучу образцов и материалов.
Сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп для визуализации и спектроскопии чувствительных к электронному пучку материалов.
Настольный SEM (сканирующий электронный микроскоп), экономичен и прост в использовании, с надежными функциями автоматизации.
Настольный SEM с возможностью EDS для надежного, легкого и универсального микроанализа и сканирующей электронной микроскопии.
Настольный высокопроизводительный SEM с электронной пушкой на эффекте полевой эмиссии (FEG)
Подготовка образца для визуализации TEM и STEM или атомно-зондовой томографии. Простота в использовании с продвинутой автоматизацией. Высококачественная трехмерная характеризация приповерхностного слоя.
представляет собой полностью интегрированную XPS систему с микрофокусировкой и профилированием по глубине. Отличная производительность, снижение стоимости владения, простота использования и компактный размер делают систему идеальной для многопользовательской среды.
cочетает в себе высокую спектральную чувствительность и разрешение с количественной визуализацией и широкими аналитическими возможностями.
редлагает полностью автоматизированный высокопроизводительный анализ поверхности, исследований и разработок или для решения производственных проблем. Интеграция РФЭС (XPS) со спектроскопией рассеяния ионов (ISS), УФ-фотоэлектронной спектроскопией (UPS), спектроскопией потерь энергии отраженных электронов (REELS) и рамановской спектроскопией позволяет проводить полноценные корреляционный анализ. Nexsa G2 раскрывает потенциал достижений в области материаловедения, микроэлектроники, развития нанотехнологий и многих других приложений.
